Tillförlitlighetstestningen av keramiska högspänningskondensatorer, även känd som åldringstestning eller livstidstestning, täcker flera aspekter av testinnehåll för att säkerställa dess stabilitet och tillförlitlighet i praktiska tillämpningar. Följer process av många världsledande kunder som använder HVC:s kondensator i sin kritiska krets. .
Serieresistanstestning och isolationsresistanstestning: Dessa tester används för att utvärdera kondensatorernas elektriska prestanda. Serieresistanstestet används för att mäta motsvarande serieresistans hos kondensatorer för att säkerställa deras normala funktion i kretsen. Isolationsresistanstestning används för att utvärdera isoleringsprestanda hos kondensatorer för att säkerställa att de inte upplever läckage i högspänningsmiljöer.
Dragprovning: Detta test syftar till att utvärdera fastheten hos kondensatorledningar och chiplödning. Genom att simulera spänningssituationen för kondensatorer i verklig användning genom att applicera dragkraft, säkerställs en stadig och pålitlig anslutning mellan ledningarna och chippet.
Positiv och negativ temperaturförändringshastighetstest: Detta test används för att utvärdera prestandastabiliteten hos kondensatorer vid olika temperaturer. Genom att utsätta kondensatorn för ett temperaturområde på -40 °C till +60 °C och mäta ändringshastigheten för dess kapacitansvärde säkerställs tillförlitligheten hos kondensatorn i olika temperaturmiljöer.
Åldringstest: Detta test är ett långsiktigt drifttest på keramiska högspänningskondensatorer under simulerade faktiska arbetsmiljöförhållanden. Normalt körs den kontinuerligt i 30 till 60 dagar för att testa dämpningen av olika parametrar hos kondensatorn för att utvärdera dess prestandastabilitet vid långvarig användning.
Spänningshållfasthetstest: Detta test inkluderar ett 24-timmars arbetstest vid märkspänningen för att säkerställa tillförlitligheten hos kondensatorn vid märkspänningen. Dessutom genomförs också ett test för att tåla genombrottsspänning, som applicerar en spänning högre än dess märkspänning till kondensatorn tills den upplever genombrott. Den kritiska spänningen före genombrott är genombrottsspänningen, som används för att utvärdera motståndsspänningsförmågan hos kondensatorer.
Partiell urladdningstest: Detta test används för att detektera partiell urladdning av kondensatorer. Genom att applicera hög spänning och observera närvaron av partiell urladdning kan kondensatorns isoleringsprestanda och stabilitet utvärderas.
Livstestning: Detta test utförs på basis av åldringstestning, genom att utföra snabbladdnings- och urladdningstester på kondensatorer under högfrekvent impulsström för att utvärdera deras laddnings- och urladdningslivslängd. Genom att registrera antalet laddnings- och urladdningstider kan kondensatorns laddnings- och urladdningslivslängd erhållas. Det bör noteras att utvärderingen av denna livslängd erhålls efter långvarig åldringstestning.
Genom att utföra dessa tillförlitlighetstester på keramiska högspänningskondensatorer kan deras stabilitet och tillförlitlighet i olika arbetsmiljöer säkerställas, vilket uppfyller kraven för elektroniska enheter för högpresterande och långlivade kondensatorer. Dessa tester är en viktig del av produktutvecklings- och kvalitetskontrollprocessen för kondensatortillverkare och tillverkare av elektronisk utrustning.
